Fasci di elettroni per le muffe del sughero

Le muffe appartenenti a generi e specie diverse sono le responsabili della formazione del TCA, causa principale del difetto di tappo nei vini con chiusure in sughero. Il processo che porta alla formazione di questa molecola, la cui presenza crea un danno stimato in 10 miliardi di dollari ogni anno, consiste nella trasformazione da parte delle muffe presenti nel sughero dei precursori (Triclorofenoli /TCP) in tricloroanisoli olfattivamente attivi. L’eliminazione delle muffe è una via di controllo efficace nel caso in cui questo processo sia bloccato prima dell’inquinamento con i TCP e la loro trasformazione in TCA.
Un gruppo di ricercatori texani di Houston ha valutato l’efficacia del trattamento dei tappi con le radiazioni dette e-beam, costituite da fasci di elettroni e già utilizzate nella sterilizzazione di molti materiali e matrici anche alimentari (spezie, alimenti e prodotti medicali). La sperimentazione è stata condotta su tappi in sughero monopezzo e agglomerato infettati con muffe di specie diverse e trattati con radiazioni a tre diverse dosi.
I risultati hanno evidenziato l’efficacia del trattamento e-beam sull’eliminazione delle muffe alle dosi più basse di radiazione utilizzata. L’osservazione al microscopio elettronico ha portato a identificare nel sughero la formazione di nuove strutture (nanotubi), la cui influenza sulle caratteristiche fisiche dei tappi dovrà essere approfondita in seguito.

Articolo originale: A.J. Corsi, F.C. Robles Hernandez, G. Cordúa y Cruz, J.A. Neal (2016). The effectiveness of electron beam irradiation to reduce or eliminate mould in cork stoppers. International Journal of Food Science & Technology, 51: 389–395. doi: 10.1111/ijfs.12993.

Abstract a cura di Alessandra Biondi Bartolini